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檢測項目
聚焦離子束分析（FIB）
1、聚焦離子束技術(shù)（FIB）聚焦離子束技術(shù)（Focused Ion beam，F(xiàn)IB）是利用電透鏡將離子束聚焦成非常小尺...
X射線光電子能譜分析（XPS）
1. X射線光電子能譜技術(shù)X射線光電子能譜技術(shù)（X-ray photoelectron spectroscopy，簡稱X...
動態(tài)二次離子質(zhì)譜分析（D-SIMS）
1. 飛行時間二次離子質(zhì)譜技術(shù)二次離子質(zhì)譜技術(shù)（Dynamic Secondary Ion Mass Spectrome...
飛行時間二次離子質(zhì)譜分析（TOF-SIMS）
1. 飛行時間二次離子質(zhì)譜技術(shù)飛行時間二次離子質(zhì)譜技術(shù)（Time of Flight Secondary Ion Mas...
俄歇電子能譜分析（AES）
1.俄歇電子能譜技術(shù)（AES）俄歇電子能譜技術(shù)（Auger electron spectroscopy，簡稱AES），是...
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